研究成果: 專利
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TY - PAT
T1 - 一種改善邊緣耦合型檢光器之耦合效率的製作方法
AU - 何, 文章
PY - 2002/1/26
Y1 - 2002/1/26
M3 - 專利
M1 - 187881
ER -