金牌具狹縫結構之瑕疵檢測光源裝置與利用該光源裝置之瑕疵檢測系統

Ho, Chao-Ching (Recipient)

製造科技研究所

獎項: 獲全國性或國際性創作、競賽、展演等榮譽獎項

獲獎日期	23 9月 2020
認可度	校外
授予組織	2020台灣創新技術博覽會