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過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
計畫
- 18 已完成
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學門主題式計畫：基於5G異質物聯雲霧之虛實整合人機協作與診斷養護系統(2/3)
Chang, C.-Y. (CoPI), Chen, Y.-L. (CoPI), Chen, K.-Y. (CoPI), Ho, C.-C. (CoPI), Lin, C.-J. (CoPI), Lin, H.-P. (CoPI), Wang, J.-H. (CoPI) & Yang, S.-H. (CoPI)
1/08/22 → 31/07/23
研究計畫: 國科會 › 國科會專題研究計畫
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以深度學習為基礎之深紫外光式三維矽穿孔臨場檢測模組-以深度學習為基礎之深紫外光式三維矽穿孔臨場檢測模組(1/4)
Ho, C.-C. (PI)
1/06/22 → 31/05/23
研究計畫: 國科會 › 國科會專題研究計畫
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發展結合物聯雲霧計算平台與異質生產設備之智慧化資安技術暨攻防演練場域驗證(1/3)
Chen, C.-S. (CoPI), Ho, C.-C. (CoPI), Lin, C.-J. (CoPI), TSENG, S.-F. (CoPI), Wang, J.-H. (CoPI) & Yang, S.-H. (CoPI)
1/11/21 → 31/08/22
研究計畫: 國科會 › 國科會專題研究計畫
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問題導向學習應用在非傳統加工與量測課程之研究
Ho, C.-C. (PI)
1/08/21 → 31/07/22
研究計畫: 教育部 › 教育部其他案件（不含計畫型獎助案、委訓計畫及產學計畫案），如教學卓越計畫
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An automated optical inspection system embedded with Bayesian optimization and support vector data description for imbalanced micro-LED defects
Kan, C. L., Wang, Z. M., Ho, M. H., Ho, H. W., Huang, S., Chen, Y. S., Ho, C. C., Chen, E. T. & Chang, C. Y., 4月 2026, 於: International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 143, 11-12, p. 6657-6675 19 p.研究成果: 期刊貢獻 › 文章 › 同行評審
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Artificial neural network-driven diffraction imaging for nanoscale optical critical dimension metrology in semiconductor microstructures
Yang, F. S., Chen, L. C. & Ho, C. C., 2月 2026, 於: International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 142, 7-8, p. 3499-3525 27 p.研究成果: 期刊貢獻 › 文章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
A volumetric error modeling and measurement of linear stages
Chen, K. M., Ho, C. C., Chen, M. F., Wei, C. H. & Fan, K. C., 1 2月 2026, 於: Measurement: Journal of the International Measurement Confederation. 259, 119729.研究成果: 期刊貢獻 › 文章 › 同行評審
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X-ray metrology for advanced semiconductor manufacturing of next-generation logic devices
Pandey, G., Fu, W. E., Liu, C. Y., Ho, C. C. & Chen, L. C., 1 1月 2026, 於: Journal of Micro/ Nanolithography, MEMS, and MOEMS. 25, 1, 010901.研究成果: 期刊貢獻 › 評論文章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Automated polarized optical and interferometric inspection system for surface defects in TFT-LCD glass panel
Ho, C. C., Huang, C. H. & Chen, M. F., 2 8月 2025, Automated Visual Inspection and Machine Vision VI. Heizmann, M. & Langle, T. (編輯). SPIE, 1357209. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; 卷 13572).研究成果: 書籍/報告/會議論文中的章節 › 會議投稿 › 同行評審